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原標題：安泰功率放大器在周邊視場光譜光視效率的實驗研究中的應用功率放大器被廣泛的用于MEMS測試，壓電陶瓷驅動，換能器驅動，無損檢測，微粒分選，超聲波測試等多個方面，今天帶大家了解功率放大器在周邊視場光譜光視效率的實驗研究中的應用的案例。實驗過程詳細如下：實驗名稱：功率放大器在周邊視場光譜光視效率的實驗研究中的應用實驗目的：基于異色閃爍光度法，以單色LED為光源搭建了測量人眼光譜光視效率函數空間分布特性的實驗系統。實驗設備：波形發生器，功率放大器ATA-4011，精密穩流電源，探測器等。實驗過程：1.實驗原理：實驗采用異色閃爍光度法測量明視覺下的V(λ)函數值。實驗中，兩種不同波長的單色光視目標以25Hz的頻率交替閃爍，照明同一視場范圍，其中波長和亮度均固定的為參考光，亮度可調的為某一波長的待測光，參考光和待測光的閃爍頻率相同，相位相反(相位差180°)。實驗中調節待測光的亮度，當被試觀察到視目標閃爍消失或閃爍感知最小時，認為此時的參考光和待測光亮度相等。2.實驗裝置：本實驗創新性地采用單色LED作為刺激光源，不僅比較容易達到目標所需的亮度值，以及光功率的精密調節，配合波形發生器和功率放大器也更能精確地實現參考光和待測光的180°相位差。實驗系統結構示意圖實驗環境在黑暗的實驗環境中打開背景光適應場，設置背景亮度為318.5cdm2，被試適應光環境10min。待背景光穩定后，測量背景亮度L。隨后打開2°圓形視目標，并設置參考光，待其穩定后在同一位置測量此時視目標亮度Lytr。被試將頭部固定在額托架上以確保觀察視角。然后以相反相位驅動待測光使其和參考光交替閃爍，被試調節待測光強度直至頻閃消失或閃爍最小，在同一位置測量融合視目標亮度Lyb+r+t。每次調節前，待測光亮度都隨機地設為高于或低于參考光。450nm、479nm、509nm、622nm、656nm五種待測光采樣波長的測量順序是隨機的。每個被試進行3組完整的實驗。實驗結果：結果發現，20°周邊視場的V(入)曲線與2°中央視場的曲線存在不同，在形狀上更展寬，這反應了視網膜上三類不同錐體細胞的相對分布對V(λ)的影響。本文研究為后續測量整個視場上光譜光視效率函數的分布奠定了理論和實驗基礎。實驗中所用到的ATA-4011功率放大器參數指標：本文實驗由西安安泰電子整理發布，西安安泰電子科技有限公司（Aigtek）是國內專業從事測量儀器研發、生產和銷售的高科技企業。公司致力于功率放大器、計量校準產品、線束測試儀等產品為核心的相關行業測試解決方案的研究，為用戶提供具有競爭力的測試方案，Aigtek已經成為在業界擁有廣泛產品線，且具有相當規模的儀器設備供應商，樣機都支持免費試用。如想了解更多實驗方案，請持續關注安泰電子官網www.aigtek.com。本實驗參考至知網論文《20°周邊視場光譜光視效率的實驗研究》返回搜狐，查看更多責任編輯：

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